TCI-XM清潔度顆粒檢測系統對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙，通過測量顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小，與XA型的清潔度檢測系統的差別在XM型是手動型，所以一般可以適用于清潔度要求不是非常高的情況，如檢測大顆粒，或者顆粒較大而且數量不多。

特點：

●通過數碼攝像頭可以在計算機監視器上直接觀察、測量顆粒，準確測定非金屬、金屬顆粒的大小

●能同時將金屬顆粒的反光區和陰影區合并測量

●鼠標引導測量（鼠標移動相應顆粒），自動給出測量數據

●對于測試顆粒分類匯總

●任意排版的圖文混編的報告輸出

●顆粒范圍：3微米—5000微米

●濾紙：25/47/50/100

   整體性能指標：

放大倍率：8X—50X

顆粒范圍：3微米—5000微米

濾紙：25/47/50/100

標準配置

○ 清潔度測量顯微鏡

○ 環形冷光源

○ 手推平臺帶濾紙托盤

○ 300萬像素高速工業數碼攝像頭

○ 0.05mm 物鏡測微尺

○0.1mm 目鏡測微尺

○ TCI 清潔度測試分析軟件

○ Dell計算機

○ Hp打印機

        TCI-XM 經濟型清潔度檢測系統對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙，通過顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小，與XA型的清潔度檢測系統的差別在XM型是手動型，所以一般可以適用于清潔度要求不是非常高的情況，如檢測大顆粒，或者顆粒較大而且數量不多。